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光通訊測試設備

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詳細介紹

品牌	Santec/日本	產地類別	進口
應用領域	電子/電池

Santec高精度可調諧激光光源TSL570

1. 品牌簡介

Santec（圣德科）是全球精密光學設備領域的品牌，深耕行業數十年，憑借較高的技術研發實力與嚴苛的品質管理體系，在光通信、光電子等領域樹立了專業口碑。其產品以超高精度、穩定性能為核心競爭力，廣泛應用于全球實驗室、企業研發中心及生產產線，為各類光學測試與研發工作提供可靠設備支持。品牌可協助用戶獲取產品手冊、中文說明書，并提供價格咨詢服務，解決決用戶在采購與使用過程中的各類需求，助力用戶高效開展光學相關工作。

2. 產品介紹

Santec高精度可調諧激光光源TSL570是 Santec 針對光通信研發與生產測試場景推出的高精度可調諧激光光源。該設備核心波長范圍覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，精準匹配光通信領域主流測試需求，無需更換設備即可應對多波段測試場景。在性能表現上，具備 ±1pm 的超高波長精度，確保激光波長輸出精準可控，避免波長偏差影響測試數據；同時擁有 ±0.01dB 的功率穩定性，保障長時間測試中功率輸出平穩，提升測試結果準確性。設備支持 100nm/s 高速掃描速度，相比常規設備顯著縮短掃描耗時，尤其適合批量生產測試場景。此外，內置低偏振相關損耗（PDL<0.05dB）與高邊模抑制比（SMSR>55dB）特性，進一步提升測試精準度；采用模塊化設計，可輕松集成至自動化測試系統，滿足工業級可靠性與重復性要求，用戶可獲取 TSL570 手冊、中文說明書，快速上手操作。

3. 產品特點

寬波段精準覆蓋：覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，無需頻繁更換設備，即可滿足光通信領域 DWDM 測試、光器件表征等多類測試場景需求，適配性強。

超高精度與穩定性：±1pm 波長精度確保波長輸出無偏差，保障測試數據準確性；±0.01dB 功率穩定性，避免功率波動對測試結果造成干擾，適合長時間連續測試。

高速掃描提升效率：支持 100nm/s 高速掃描速度，相比普通設備大幅縮短單次測試時間，在批量生產測試或高效研發場景中，能有效減少整體測試周期，提升工作效率。

低損耗高抑制比：內置低偏振相關損耗（PDL<0.05dB）特性，減少偏振變化對測試結果的影響；高邊模抑制比（SMSR>55dB），確保激光輸出純度，進一步保障測試數據的精準度。

模塊化集成設計：采用模塊化結構設計，可便捷集成至自動化測試系統，無需復雜改造，降低系統搭建難度，同時滿足工業級可靠性與重復性要求，適配生產產線高強度使用需求。

完善服務支持：可獲取 TSL570 手冊、中文說明書，幫助用戶快速熟悉設備操作流程；同時提供價格咨詢服務，為用戶采購決策提供清晰參考，后續使用中遇到技術問題也可獲得專業支持。

4. 應用場景

DWDM 測試場景：在密集波分復用（DWDM）系統測試中，設備覆蓋的 C+L 波段與 ±1pm 波長精度，可精準測試 DWDM 器件的信道插損、波長響應等關鍵參數，100nm/s 高速掃描能高效完成批量器件測試，保障 DWDM 系統傳輸質量。

光器件表征場景：用于光耦合器、光濾波器、光開關等光器件的性能表征，低偏振相關損耗（PDL<0.05dB）與高邊模抑制比（SMSR>55dB）特性，可精準測量器件的偏振相關特性、波長響應等參數，為器件質量把控提供可靠依據。

硅光芯片驗證場景：硅光芯片對激光光源的精度與穩定性要求較高，Santec TSL570 的 ±1pm 波長精度、±0.01dB 功率穩定性及低 PDL 特性，可滿足硅光芯片研發與生產過程中的性能驗證需求，助力硅光技術產業化推進。

實驗室精密測試場景：科研實驗室開展光通信相關研究時，需要高精度、高穩定的激光光源作為測試基礎，Santec TSL570 可作為核心測試設備，支持各類精密光學實驗，為科研數據的可靠性提供保障，助力科研項目順利推進。

生產產線質檢場景：在光通信設備、光器件的生產產線中，該設備可作為質檢工具，對出廠產品進行性能抽檢或全檢，高速掃描功能提升質檢效率，高精度與高穩定性確保質檢結果可靠，幫助企業嚴格把控產品出廠質量，減少不良品流出。

自動化測試系統集成場景：其模塊化設計可輕松集成至自動化測試系統，適配工業級生產與研發需求，無需額外定制改造，即可實現測試流程自動化，減少人工操作誤差，提升整體測試效率與一致性。

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